3.1.2た。 \\のnST標本

Figure 6に示すSEM顕微鏡写真ST熱処理後。溶融プールおよび樹状構造の境界は消失した。 HX ST試験片は、低倍率で等倍粒子形態を提示した（図6A）。その標本はより高い倍率でも多くの双子を示した（図6b）。 HXA標本の場合、ST標本の粒子形態は、AS-blet Sampleのそれと似ていました（図6C）。 ST処理後のHX試験片とHX-A試験片との間に2つの主な違いが観察された：後者において、粒子境界は炭化物と共に厚くなり、粒子内に形成された微細炭化物（図6D）。前者は、粒子内部の炭化物は観察されず、粒界はHx-a St標本のそれより薄い（図6b）。粒界の-blet標本としてのHX-AのSEM分析を実施した。結果を図7Aに示す。粒界にM6C、SiC、Ycが形成された。粒界のこれらの炭化物は、溶液熱処理中に境界を固定している必要があります。 HX-a St試験片の粒界でFe-SEM分析を行った。図7Bは、HX-a St試験片のFe-sem顕微鏡写真を示す。粒界にMC（Si、Y）、（Mo、W）6c、Cr23C6炭化物を形成した。これらは主に粒子境界ピン止め効果を最終的に柱状粒子の形態を維持しました-

abigure8は、ST状態におけるHxおよびHx

A標本のIPFSを示す。溶液熱処理後、HX試験片は等軸粒子を示し、配向はランダムであった（図8A）。ほとんどの粒子はそれに沿って方向を有する（図8a）。しかしながら、HXA標本は、-blet標本としてHX-Aと同様であるように見えた（図5B）。つまり、縦粒の形態と粒子の半分が--<> 

----------

n

----------------- -x

st標本のMo

rich Carbidesを示す。粒子内のYおよびSi含有Cの酸化物の形成もまたあった（図9A参照）。溶液熱処理後の膜中領域に沿ったM6C炭化物の蓄積の理由を見つけるために、我々はbuilt標本としてのHXAの透明領域でのEDSマッピングを行った（図9B）。透離領域では、Mo、Si、C、Oが分離した。材料2021,14、xは、16のピアレビュー8のためのXは、粒子内部のMo

rich炭化物を示すHx

a St標本のEDSマッピングを示す。粒子内のYおよびSi含有Cの酸化物の形成もまたあった（図9A参照）。溶液熱処理後の膜中領域に沿ったM6C炭化物の蓄積の理由を見つけるために、我々はbuilt標本としてのHX

Aの透明領域でのEDSマッピングを行った（図9B）。挟み込まれた領域では、Mo、Si、C、およびOは分離されました。

-------は、建物方向（垂直標本）に沿ってクリープテストを行い、建物の垂直方向（水平標本）;クリープ曲線は図10に示されている。ASblet環境では、垂直HX試験片は13.8時間のクリープ寿命を示し、HXA標本は1.46倍高い、20.2時間のクリープ寿命を示した（図10A）。さらに、HXAは、HX（2.8％）よりも高いクリープ→血行伸び（5.7％）を明らかにした。 HXは、HXa水平試料（0.26時間）よりも長いクリープ寿命（3.4時間）を示したが、破裂歪みは両方の試験片においてほぼ同じであった（図10B）。図10Cは、ST垂直試験片のクリープ特性を示す。 HX試験片は3.7時間のクリープ寿命を示したが、HX

A標本は8倍高く、29.6時間のクリープ寿命を示した。 HX

Aは、HXのほとんど2倍のHX（7.5％）のより高いクリープ\\鼻伸び（15.6％）を示した。 HX ST水平試料は、HX

a水平試料（0.26時間）よりも長いクリープ寿命（3.6時間）を示したが、両方の試験片においてクリープα→血管支伸びはほぼ同じであった（図10D）。材料2021,14、Xピアレビュー9の16私たちは、建物方向（垂直標本）に沿ってクリープテストを行い、建築方向（水平標本）に垂直に並んでいました。クリープ曲線は図10に示されている。AS

blet環境では、垂直HX試験片は13.8時間のクリープ寿命を示したが、HXA標本はクリープ寿命が1.46倍高い、20.2 H（図10A）。さらに、HX

Aは、HX（2.8％）よりも高いクリープ→血行伸び（5.7％）を明らかにした。 HXは、HX

a水平試料（0.26時間）よりも長いクリープ寿命（3.4時間）を示したが、破裂歪みは両方の試験片においてほぼ同じであった（図10B）。図10Cは、ST垂直試験片のクリープ特性を示す。 HX試験片は、HXa

horizo​​intal検体（0.26時間）よりクリープ寿命（3.6時間）を示したが、クリープ→血行伸びは両方の試験片においてほぼ同じであった（図10D）。

\\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n authureサーフェスを示す。図11a、bから明らかなように、\\ Nビルド垂直試料としてのHxおよびHx \\ Naは細長い粒子を示し、それは最終的にネッキングおよび断裂を誘発する。対照的に、AS \\ Nbleth HXおよびHX \\ NA水平標本では、かなり劈開\\ NLIKE表面を観察することができる（それぞれ図11C、D）。明らかに、応力軸に対して垂直に存在する亀裂は、樹状構造に沿った劈開\\ Nlike表面をもたらし、脆性的な振る舞いと延性が低いことを示し、\\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n