4.2。クリープ特性に及ぼす熱処理と異方性の影響

-first、我々はクリープ特性に対する粒子形態効果を考慮しました。 AS-blet Sutomationでは、HXとHX-A標本の両方が柱状粒子形成を示しました（図5）。柱状粒子形成は、添加剤製造材料における自然現象です。これはさまざまな合金の多くの研究者によって証明されています[28,29]。柱状粒子は、主にエピタキシャル粒成長、結果は、SLMプロセス中の急速な加熱および冷却を伴う層-by-layerの形成の結果である[30]。柱状粒子形態を有する材料がより良いクリープ特性を示すことがよく知られている[31]。-blet標本としてのHX-Aは多くの亀裂を有していたが、それはHX標本よりも良いクリープ特性を示した。 HX-A垂直試験片のクリープ特性は、AS-ビルト状態のHX垂直標本より1.46倍長いクリープ寿命を示した（図10A）。さらに、HX-a試験片におけるイットリウム添加は、HX試験片と比較してYおよびSiの酸化物（図4）および長期のクリープ寿命を形成した。水平のクリープ特性は、-ビルトサンプルを図10Bに示す。水平標本では、HX&A標本はHX標本と比較して劣ったクリープ寿命を示した。これは、応力軸に垂直な亀裂が存在することによるものです（図1B）。その結果、HX標本Havin#-103。割れが少ない（図1A）は、HX-A標本よりも長いクリープ寿命を示しました。しかしながら、AS-ビルト状態における亀裂および柱状粒子形態のために、異方性クリープ特性は、HXとHX-A試験片の両方に普及していた。溶液処理は、HXおよびHX-A試験片の微細構造を変えた。溶液熱処理後、HX試験片は等軸粒子形態を示し、配向はランダムになった（図8A）。一方、HX-A標本は柱状形態を維持した（図8B）。粒界におけるHX-AのSEM分析は、粒界で炭化物の形成を明らかにし、粒界ピン止め効果が柱状粒子形態を維持したことを示している（図7A）。 Fe-SEM分析は、HX-a ST試験片の粒界で行い、境界の段階を見つけた。 MC（Si、Y）、（Mo、W）6c、および粒界に形成されたCr23c6炭化物（図7b）。炭化物による粒界ピン止めは最終的に柱状粒子形態を維持します。 HXおよびHX-a ST試験片の間の別の重要な違いは、HX-A標本の粒子内のM6C炭化物の形成である（図9A）。イットリウムは、粒子内の高密度のMo--ニルチフおよびより大きい酸化物を促進する（図9A）。 HX-a ST試験片の垂直方向に沿ったクリープ寿命（29.6時間）は、HX ST試験片のそれより8倍良く、忍素力伸長はHX ST試験片のほとんど2倍になりました（図10C）。 HX-a ST試験片の粒子形態は、方向性固化（DS）Ni-based超合金と類似していた[29]。応力軸に垂直な粒界は通常、従来の超合金の亀裂発生部位である。したがって、柱状粒子の形態はクリープ寿命を改善します。したがって、HX-A ST垂直試料は、HX ST垂直試料よりも良好なクリープ特性を示した。一方、HX STクリープ試験は、HX ST試験片における等磁性粒子形態のために、低クリープ寿命および延性をもたらした。 HX-A ST垂直標本のクリープ寿命の改善の背後には2つの追加の理由があります。第一に、HXA標本の粒子内部のM6C炭化物の形成（図9A）はまた、HX-A ST垂直試験片におけるクリープ寿命の改善にも影響する。第二に、YおよびSiの酸化物はより高い温度でさえも安定である。それらはまた転位運動を妨げることによってクリープ性を向上させる。さらに、粒界炭化物は粒界滑りを制御し、HX-A標本のクリープ率が低い（図13）。

addiotitory、連続の形成粒界の炭化物（図14A）は低延性をもたらす。亀裂が核形成されると炭化物は脆い段階であるので、それは急速に伝播し、伸びを減少させる（図10c）。しかしながら、図6Dと図14Bとの間の比較から、これらの炭化物（図14B）は粒界スライドおよび得られた亀裂形成のために、HX-A STにおけるクリープ試験および改善されたクリープ延性の間に増加した。水平溶液熱-reteat標本についてもクリープ試験を行った。 HX-A標本（図1B）では、これらの亀裂は応力軸に対して垂直に整列し、亀裂先端の応力集中は増加する。易クラックの伝播は低いクリープ特性をもたらす。 HX水平標本は、前者が亀裂が少ないため、HX-a水平標本（図10d）よりも良いクリープ寿命を示した（図1a）。